介质损耗因数与试验电压关系
凡绝缘结构中tanδ过高以及游离电压过低且超过规定值而不能修复时，电力设备一般不应继续运行。因此，如果现场条件许可，应测量介质损耗因数与试验电压关系曲线tanδ= f(U)。对良好绝缘试品，tanδ随试验电压U增加仅略有变化(增大或减少)。而当试验电压增加，tanδ有明显增大或减少时，都必须对被试设备绝缘进行认真检查或分解试验，以寻找出绝缘缺陷的部位
一般情况下的tanδ=f(U)关系曲线如图所示。
(1)良好绝缘的tanδ一般是不会随试验电压的升高而明显变化的，这是因为电压升高了，有功电流增大,无功电流也随着增大，它们的比值 tanδ 不会发生明显变化。只有试验电压超过设备的额定电压，并且超过比较多的时候，介质开始忍受不了过高的电场的作用，才会出现泄漏电流和 tanδ急剧增大的现象。对于良好的干燥的介质，tanδ和试验电压的关系如图中曲线1所示。
(2)如果介质绝缘老化，试验电压过低，测量 tanδ是很难发现的，在气隙起始游离之前，tanδ比良好绝缘的低，但过了起始游离点之后则迅速升高，而且起始游离电压比良好绝缘的低，tanδ随电压的变化如图中曲线 2 所示。
(3)如果介质中含有气隙，试验电压过低，测量tanδ也是很难发现的，因为当时气隙还未放电。只有试验电压升高到某一个数值时，气隙开始放电，情况才会发生变化，出现局部放电使介质损耗急剧增加的现象。就在这个时候，如果将试验电压下降，由于气体已开始放电，虽然电压往下降低，但气体的离子并没有马上消失，气体仍继续游离，所以这时候的tanδ仍比原来升压过程中的同一试验电压时高，待到电压继续下降至气隙的游离完全停止，tanδ的数值才下降到与原来升压时一样，tanδ随电压的变化如图中曲线3所示。即有气隙的介质在电压下降到气体放电停止后，上升与下降电压的曲线又重合，形成闭合形状。这样，根据试验电压的上升和下降时 tanδ的变化规律可以看出介质是否存在局部放电比较有效
(4)根据试验电压的上升和下降，观察tanδ随电压的上升和下降的变化规律，还能检查出绝缘是否受潮。良好及干燥的介质绝缘，电压在一定范围内变化，试品的绝缘电阻Rx及电容Cx基本保持不变，tanδ与试验电压无关。但潮湿的介质绝缘在电压上升时，绝缘电阻Rx下降，tanδ随电压的上升而增加，这时如果将电压再往回降，由于受潮的绝缘已经发热，温度已经升高，介质损耗就比电压上升过程时大，不能再回到原来的数值，因此，受潮介质的tanδ和电压的关系曲线如图中曲线4 所示，呈开口的环状。
(5)新见的是，如果介质损耗因数与试验电压关系曲线在试验电压上升和下降的过程中基本上是重合的，并且存在转折点，这是主绝缘中含有离子性杂质或污染物的表现。这种现象在电容式电流互感器、油浸电容式套管、电容式电压互感器中均有所见。分析认为在试验电压较低的情况下，离子运动速度慢，迁移不大，不会碰到纸纤维;当试验电压升高时，介质损耗因数随试验电压升高而增大。但当试验电压升高到一定程度后，随着离子运动速度的加快，其机械运动受到纸纤维的阻拦，不再是简谐振动，表现在电流上为有功分量ir波形畸变。由于介质损耗因数测量时电桥检流计测量的是基波电流，当有功电流分量ir的波形发生上述畸变后，其基波分量ir'不再与电压u同相位，而是超前一个角度，表现在矢量图上就是实际角度为δ，但介质损耗因数测量的角度为δ'，致使介质损耗因数值下降，因此介质损耗因数呈下降特性。如图所示。
